瑞普高繼續提供100G/400G光模塊整體測試方案

繼2018年深圳光博會推出100G整體測試方案，瑞普高一直和國內外尖端客戶合作提供整體的100G和400G光模塊發射測試方案及400G光模接收端的壓力測試方案。

瑞普高技術和市場團隊應客戶的需求在國際儀器第一大廠是德科技（Keysight）的硬件和軟件平臺上，采用不同型號的采樣示波器，光電采樣模組，時鐘恢復儀及誤碼率分析儀再配置是德的測試軟件（DCApro) 和瑞普高全客制化的控制軟件 (RPG Solutions）為研發和生產型客戶提供軟硬件的“交鑰匙”測試方案。  這系列的測試方案能穩定，高效，經濟地為客戶提供光發信機的測試（含Average Power, OMA, ER, TDEC, Jitter & Mask Testing, TDECQ, Outer OMA等規格), 電口發射測試（含Amplitude, Period, Rise/Fall Time, Jitter, Bit Rate, Levels, Level Skews, Eye Levels等一整套規格）和光模塊接收機壓力容限測試。

這些整體測試方案為客戶在軟硬件的選型，搭配，調試和驗證上節省了數月的時間。  瑞普高的租賃和以租代購的靈活入手方式和技術團隊的現場支持也確?？蛻裟軌蛟谧疃痰臅r間內以最小的資金和技術投入來生產或產品及產能的更新換代。